L'AFM (Microscopie à Force Atomique) est un outil d'investigation performant et multifonctionnel qui, de par l'intérêt qu’il a suscité au sein de la communauté scientifique, a connu un essor important ces dernières années. L’application la plus connue est sans aucun doute l’imagerie à haute résolution qui permet de visualiser des nano-objets et matériaux à l’échelle moléculaire. Par ailleurs, la spectroscopie de force (l’une des variantes de l’AFM) est devenue la technique de référence pour caractériser, à l’échelle locale, les propriétés physico-chimiques des matériaux.

Ce petit livre a été réalisé dans la continuité du Tome I (« RMN Express »), afin que le lecteur puisse découvrir les aspects techniques et fondamentaux de l’AFM. Afin d’illustrer les potentialités de la technique, l’auteur aborde également quelques domaines d’application, parmi les plus en vue dans la communauté scientifique.